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對(duì)多通道功率驅(qū)動(dòng)照明和OLED壽命測(cè)量進(jìn)行了優(yōu)化。
M6000 PLUS OLED壽命測(cè)試系統(tǒng)是用來(lái)測(cè)試OLED材料在高、低溫之間承受持續(xù)電源或環(huán)境變化的能力,從而了解在指定時(shí)間內(nèi)降解引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。適用于OLED器件,Panel,模組;壽命測(cè)試結(jié)果可作為改進(jìn)和提高OLED材料質(zhì)量的參考或依據(jù)。
-相對(duì)壽命測(cè)試
-相對(duì)I-V-L試驗(yàn)
-老化測(cè)試
-多電流/光電流范圍
-方序列運(yùn)算
-利用溫/濕控制腔室進(jìn)行加速測(cè)試
暫無(wú)數(shù)據(jù)!