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美國Microvision System成立于1993年，是全球顯示器測試系統(tǒng)的主要供應(yīng)商，可以檢測FPD CRT，PLASMA， HDTV， OLED， HUD， HDD投影機等，應(yīng)用于R&D， QC及工業(yè)測試。Microvision System以技術(shù)先進的產(chǎn)品及完善的售后服務(wù)，贏得用戶的尊敬。

系統(tǒng)功能說明：

Microvision顯示器測量系統(tǒng)可選擇兩種取樣探頭SS410及SS420，使用一組抵用平臺和控制電腦，經(jīng)由專業(yè)控制軟件，進行顯示器光學(xué)特性的自動測量和分析。

SS445大屏幕顯示屏測量系統(tǒng)

系統(tǒng)簡介：

SS445是一款顯示屏測試系統(tǒng)專門設(shè)計于測量大屏幕顯示屏。這個包括了投影顯示屏高達電影院屏幕的尺寸，來自于任何一個現(xiàn)有的投影引擎技術(shù)。

系統(tǒng)采用了電動Pan & Tilt機械實現(xiàn)移動到所要的測試位置。系統(tǒng)配置了1.4MP CCD相機和/或者一個衍射光柵光譜儀。

在操作中，系統(tǒng)是固定在顯示屏的前方進行測試的。模式發(fā)生器或者Microvision的MVRemote是用于自動顯示測試模式或者有需要的話可通過客戶的系統(tǒng)生成圖像。

SS445專門設(shè)計于從觀察器的角度來測量顯示屏，由于是真實可見的因此能更好地測量出顯示屏的性能。完全定義顯示屏可快速地測量出多個觀察器的位置。操作員進入到所要的測試位置（X和Y或者像素坐標），測試可實現(xiàn)全自動化，并且系統(tǒng)會自動找到以及在這些位置運行所要進行的測試。

測試性能：

SS445的測試性能包括了大型顯示屏的所有類型測試。 這些系統(tǒng)的性能都由安裝了什么傳感器來決定的（相機和/或者光譜儀）?？偟目蓽y試參數(shù)如下：

CCD相機：

- MTF

- 線寬

- 幾何圖

- 收斂測量

- 亮度均勻度

- Jitter， Swim， Drift

- 伽馬/灰階

光譜儀

- 亮度

- 色度和色溫

- 亮度和色彩均勻度

- 頻譜圖

- 伽馬

- 對比度

- 色差

SS445 規(guī)格參數(shù)：

Pan&Tilt組件

- 分辨率：0.0032°

- 承載性能：9 lbs

CCD相機

- 圖像傳感器：1392x1040 pixels

- 數(shù)字視頻：12-Bit

- 元素尺寸：6.45 μm square pixels

- 同步：Synchronous Capture

- 視場：20mm @ 1m， adjustable

- 工作區(qū)域范圍：0.5 to 3.5 meters

- 數(shù)字變焦：Up to 32X

- 亮度精度：+/- 4% @ 2856k

- 亮度范圍：0.05 to 106 cd/m2 with ND Filters

- 測量時間：<1 sec for most measurements

光譜儀

- 波長范圍：380 to 780nm (1000nm opt)

- 亮度范圍：0.01 to 500K cd/m2

- 亮度精度：+/-3% @ 2856 illuminant A

- 亮度重復(fù)率：RSD over 30 minutes < 0.5%，0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD

- 色彩精度：+/- 0.002 @ 2856K

- 色彩重復(fù)率：+/- 0.0005 @ 2856K

- 集成時間：16.7 – 5000 msec (sync@60hz)

- 溫度控制：Computer Controlled

- 光學(xué)：12mm Collimated

- 接受角度：1.5°

- 光學(xué)分辨率：3.8nmFWHM @ 100μm slit

- 校準：NIST Traceable

- 操作溫度：5° to 30°C