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TH-F120品牌
廣州慧炬產(chǎn)地
廣州樣本
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TH-F120取名源自中華名山“太行”（TH），寓意TH-F120將如太行山一樣成為中國(guó)透射電鏡產(chǎn)業(yè)的脊梁。
肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
平行束/會(huì)聚束自適應(yīng)切換照明系統(tǒng)
對(duì)稱式極靴、恒功率物鏡 （高襯度/高分辨模式可選）
高像素CMOS相機(jī)
四軸高精度樣品臺(tái)
全中文軟件交互界面
電鏡空間與工作空間分離，減少人為干擾，提升安全性，帶來(lái)舒適的使用體驗(yàn)
各模塊控制高度集成至PC端，全中文軟件交互界面一目了然，提升操作效率
將場(chǎng)發(fā)射電子槍、高自動(dòng)化系統(tǒng)等配置120 kV平臺(tái)，入門即高配
預(yù)設(shè)充足的附件加裝接口以及整機(jī)升級(jí)空間，滿足用戶使用新需求，有效應(yīng)對(duì)多樣的應(yīng)用場(chǎng)景
| 高襯度版 | 高分辨版 | |
|---|---|---|
| 加速電壓 | 10～120 kV | 10～120 kV |
| 信息分辨率 | 0.20 nm | 0.14 nm |
| 點(diǎn)分辨率 | 0.36 nm | 0.30 nm |
| 放大倍率 | 10～1,200,000 x | 10～1,500,000x |
| 主相機(jī)像素 | 4096×4096 | 4096×4096 |
| 樣品臺(tái)傾轉(zhuǎn)角 | -90 °~+90 ° | -70 °~+70 ° |
| 支持拓展 | EDS、STEM、側(cè)插式相機(jī)、EELS、插入式冷凍盒 | |
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摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料，因?yàn)榫哂辛己玫目拐承?、增流性和?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用，作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑，比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響，硬脂酸鎂的比表面積越大，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn)、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu)，是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
助力“土壤三普” | 氣體吸附技術(shù)在土壤膠體表征中的應(yīng)用 有關(guān)吸附等溫線中的滯后環(huán) 有關(guān)分子篩結(jié)構(gòu) 淺析BET BJH孔徑分布計(jì)算模型 有關(guān)BET測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題（三） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題（二） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題（一） 動(dòng)、靜態(tài)吸附法比較 淺析吸附方式中的t-plot 
5月18日，第四屆量子科儀節(jié)暨量子精密測(cè)量賦能新質(zhì)生產(chǎn)力會(huì)議在合肥市量子科儀谷舉行。會(huì)上，國(guó)儀量子技術(shù)（合肥）股份有限公司發(fā)布了自主研制的鉆石單自旋傳感器、量子磁力儀、微波場(chǎng)強(qiáng)儀等多款量子傳感器，為量
由北京理化分析測(cè)試技術(shù)學(xué)會(huì)北京波譜學(xué)會(huì)主辦，中國(guó)科學(xué)院化學(xué)研究所和天津醫(yī)科大學(xué)協(xié)辦的“2025年度北京波譜年會(huì)”將于于5月23日－5月25日在北京召開(kāi)。屆時(shí)，國(guó)儀量子將在會(huì)上全面展示國(guó)產(chǎn)電子順磁共振波
近日，【國(guó)儀順磁學(xué)院】波譜校園行北京站在北京工業(yè)大學(xué)成功舉行。來(lái)自清華大學(xué)、北京師范大學(xué)、南開(kāi)大學(xué)、中國(guó)科學(xué)院大學(xué)等全國(guó)多所頂尖高校的70余名師生齊聚北京工業(yè)大學(xué)，共同學(xué)習(xí)交流電子順磁共振波譜技術(shù)的基
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中，金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性，對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升，芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí)，Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開(kāi)裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域，芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”，覆蓋在芯片表面，隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利
場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡的工作原理介紹？場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡的使用方法？場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡多少錢一臺(tái)？場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡使用的注意事項(xiàng)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡的說(shuō)明書(shū)有嗎？場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡的操作規(guī)程有嗎？場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡有現(xiàn)貨嗎？場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡包安裝嗎？
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