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復(fù)納科技：深耕儀器行業(yè)15年，以用戶為中心提供無(wú)可復(fù)制的創(chuàng)新產(chǎn)品！

復(fù)納科技 2024-10-22 | 閱讀：820

2024年10月18-20日，一年一度的全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞成功舉辦！來(lái)自世界各地的電鏡相關(guān)供應(yīng)商、來(lái)自五湖四海的用戶、專家歡聚一堂，共同探討顯微學(xué)術(shù)最新技術(shù)發(fā)展與應(yīng)用！

復(fù)納科技受邀參加此次會(huì)議，亮相 4-20 展位。飛納電鏡作為臺(tái)式電鏡的領(lǐng)軍品牌，自 2018 年臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射發(fā)布以來(lái)，目前已經(jīng)升級(jí)至第二代臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射。全球已經(jīng)有 800 名臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射用戶，中國(guó)已有 300 名用戶。本次會(huì)議上，飛納電鏡為大家?guī)?lái)了最新的技術(shù)突破：臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描-透射電子顯微鏡，將臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射電鏡提升至 1nm 分辨率，為催化劑研究、細(xì)胞學(xué)、生物學(xué)研究提供了更加方便快捷的研究工具。此外，還為大家?guī)?lái)集成于臺(tái)式掃描電鏡的 AFM（原子力顯微鏡）方案，實(shí)現(xiàn)在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)）的關(guān)聯(lián)分析。

臺(tái)式掃描透射電鏡

飛納臺(tái)式掃描透射電鏡 Pharos STEM 可靈活放置，通過(guò)與傳統(tǒng)電鏡靈活搭配使用，可實(shí)現(xiàn)快速成像、篩選樣品，成為生物電鏡表征流程的加速器和催化劑。由于其操作簡(jiǎn)便性，也可作為開(kāi)放自由上機(jī)或培訓(xùn)使用。

ChemiSEM 技術(shù)

EDS 能譜儀在電鏡工作時(shí)始終在后臺(tái)收集成分?jǐn)?shù)據(jù)，利用算法同時(shí)處理 BSE 和 EDS 信號(hào)，從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和定量元素分布結(jié)果。簡(jiǎn)化對(duì)金屬、陶瓷、電池、涂層和軟材料等多種材料的復(fù)雜分析。

Phenom MAPS 系統(tǒng)

通過(guò)層級(jí)的方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看。Phenom MAPS 提供的是一個(gè)涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔，從宏觀到微觀無(wú)所不包，徹底變革了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模式。并且，多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。

AFM-in-Phenom XL

全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。

一直被模仿，從未被超越！除了硬件的升級(jí)，飛納電鏡引領(lǐng)掃描電鏡進(jìn)入 AI 人工智能時(shí)代。Diatom AI 硅藻全自動(dòng) AI 識(shí)別系統(tǒng)，在公檢法，環(huán)境監(jiān)測(cè)，地質(zhì)勘探等領(lǐng)域，解放了操作人員的雙手，大幅減少了操作人員尋找目標(biāo)物的時(shí)間。全自動(dòng)顆粒物及清潔度分析系統(tǒng) ParticleX，可對(duì)雜質(zhì)顆粒、金屬夾雜物進(jìn)行自動(dòng)識(shí)別，自動(dòng)歸類，并導(dǎo)出符合 ISO 等標(biāo)準(zhǔn)要求的報(bào)告，已經(jīng)成為鋰電行業(yè)質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)。

精彩回顧

會(huì)議期間，飛納電鏡在展會(huì)現(xiàn)場(chǎng) 4-20 展位為大家?guī)?lái)來(lái)《引領(lǐng)科學(xué)儀器進(jìn)入AI智能時(shí)代：飛納臺(tái)式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新A 智能離子研磨》的微講座報(bào)告。并真機(jī)展示了 ChemiSEM 彩色成像軟件，ChemiPhase 物相分析軟件、Phenom MAPS 大面積能譜拼圖軟件等最新技術(shù)，不僅打破大家對(duì)于掃描電鏡圖片是黑白的傳統(tǒng)認(rèn)知，而且將掃描電鏡成像分析帶入一個(gè)全新的高度。

此外，可以對(duì)話的離子研磨儀 SEMPREP SMART，不僅是技術(shù)的集大成者，更是智能化操作的前沿標(biāo)桿。離子研磨系統(tǒng)是一種高精度的表面處理技術(shù)，主要用于材料科學(xué)和半導(dǎo)體行業(yè)。目前絕大多數(shù)離子研磨系統(tǒng)都是采用傳統(tǒng)的觸控屏或機(jī)械鍵盤的方式進(jìn)行操作。而最新的 Technoorg Linda 產(chǎn)品 SEMPREP SMART 創(chuàng)新地采用了智能 AI 的操作模式，是一臺(tái)你可以對(duì)話的離子研磨系統(tǒng)！

復(fù)納科技已經(jīng)全面承接 DENSsolutions 在中國(guó)市場(chǎng)的售前售后支持服務(wù)，此次會(huì)議期間，DENS 亮相復(fù)納科技展臺(tái)，并在 4-20 展位為大家?guī)?lái)了線上線下同步直播的微講座：《DENS 新品發(fā)布! 新一代通用型原位環(huán)境樣品桿--領(lǐng)先的 8 電極原位環(huán)境解決方案》。

8 電極原位環(huán)境桿可以在氣相和液相環(huán)境中實(shí)現(xiàn)同時(shí)加熱、加電的功能，可以解決當(dāng)前很多實(shí)際的應(yīng)用難題。該樣品桿還有很多領(lǐng)先的設(shè)計(jì)，樣品桿前端 tip 可以傾轉(zhuǎn) 180°，在不破壞實(shí)驗(yàn)環(huán)境的前提下，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的 TEM 和 STEM 功能。樣品桿前端 tip 既可以用在 JEOL 樣品桿上，也可以用在 TFS 樣品桿上，充分發(fā)揮 TFS TEM 和 JEOL TEM 的功能優(yōu)勢(shì)。

2017 年開(kāi)始，復(fù)納科技陸續(xù)與 7 家行業(yè)領(lǐng)先品牌建立了長(zhǎng)期獨(dú)家合作，致力于為中國(guó)高校、研究所、企業(yè)和政府用戶提供先進(jìn)可靠、高效智能的科學(xué)分析儀器、優(yōu)質(zhì)專業(yè)的服務(wù)和基于核心技術(shù)的解決方案。十年以來(lái)，復(fù)納科技賦能中國(guó)科研創(chuàng)新、工業(yè)升級(jí)，人工智能檢測(cè)的使命也越來(lái)越清晰。