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飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。

實時分析獲取更深層的信息 所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復雜的，對于產(chǎn)品故障分析和污染物識別等應用，研發(fā) 需要不斷改進質(zhì)量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解決出現(xiàn)的問題。 ChemiSEM 技術的實時分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了獨特的優(yōu)勢。它的 EDS 集成在儀器中，并在電鏡工作時始終在后臺收集成分數(shù)據(jù)，逐步建立樣品更全面和詳 細的信息，幫助您更快地定位到關鍵質(zhì)量問題。實時定量面掃：不再有

實時定量面掃：不再有分析干擾 傳統(tǒng)的元素分析中，復雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時得到精確的結(jié)果。例 如，一個峰的信號有時會被識別為兩個元素，產(chǎn)生錯誤，干擾樣品QC 問題的判斷。 憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合，ChemiSEM 技術可以幫助您的實驗室團隊實現(xiàn)準確的 元素識別和量化—— 即使在處理多個重疊元素時也是如此。

ChemiSEM 定量面掃：ChemiSEM 技術自動處理原始信號，生成定量面掃結(jié)果。數(shù)據(jù)被很好地解析，能夠有效避免和 峰和重疊峰的影響。并且使用算法同時處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號，從而可以實時顯示樣品的形態(tài)和 元素定量結(jié)果。

無偏差相分析 傳統(tǒng)的相分析高度依賴于對樣品的假設，當存在譜峰重疊或強度不足而遺漏了元素時， 這可能會是一個問題。 有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術中的一項新功能）后，可以避免這種情況。復雜樣 品的分析能夠做到完全無偏差，可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果，系統(tǒng)地識別每個獨 立的相。隨后，數(shù)據(jù)分析可以在沒有任何元素預定義的情況下自動運行，無需豐富經(jīng)驗 即可定位次要/微量元素，明確識別主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。

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使用 ChemiPhase 對地質(zhì)切片的分析，每個相的能譜成分被自動提取和計算，可以將不同礦物相有效區(qū)分。

自動樣品漂移校正 成分分析過程中，準確和有效的定量結(jié)果需要一個正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。 通常在圖像漂移的情況下，研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù)，或者等待樣品停止漂 移后再獲取數(shù)據(jù)，這兩種方式都會降低測試效率。 通過不斷監(jiān)控樣品位置，ChemiSEM 軟件提供自動樣品漂移校正，使高倍率操作和較長 時間的能譜采集成為可能。幫助大家節(jié)省寶貴的時間和精力，專注于更重要的事情：盡 快獲取**質(zhì)量的數(shù)據(jù)。