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大昌華嘉（DKSH）是世界領(lǐng)先的分析儀器代理銷售商?，F(xiàn)代理銷售有美國Microtrac（麥奇克）公司的S3500系列激光粒度分析儀及Nanotrac Wave粒度儀。

 

美國Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀，原理上采用經(jīng)典靜態(tài)光散射技術(shù)和全程米氏理論處理，利用現(xiàn)代模塊式設(shè)計理念，使用獲得專利的三激光光源技術(shù)，配備超大角度雙鏡頭檢測系統(tǒng)，以對數(shù)方式排列151個高靈敏度檢測單元，無需掃描，平行通道實時接受散射光信息，提供準(zhǔn)確可靠的測量信息。多種分散方式可選，干法與濕法測量之間的轉(zhuǎn)換，系統(tǒng)自動識別，方便快捷。S3500系列儀器完全符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)及21 CFR PART 11 安全要求，并被榮幸地指定為NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)認(rèn)證儀器。

主要特點：

﹡ 專利Tri-Laser激光系統(tǒng), 完全消除了不同波長光源對顆粒散射光分布“連接點”的影響和

多次米氏理論（Mie Theory）數(shù)學(xué)處理的誤差（米氏理論處理與波長有關(guān)）。

﹡ 專利“Bluewave”激光技術(shù)，拓展測量下限至0.01μm。

﹡ 無需掃描，同步接受全量程散射光信號，保證分

析結(jié)果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率。

﹡ 首家引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因子，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫，

提高顆粒粒度分布測試的準(zhǔn)確性。

﹡ 系統(tǒng)自動對光，內(nèi)置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度。

﹡ 多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇，各種分散系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換簡單方便，結(jié)果穩(wěn)定一致。

﹡ 現(xiàn)代模塊式設(shè)計，可根據(jù)實際應(yīng)用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來的任何需要。

﹡ 數(shù)據(jù)處理靈活方便，體積分布，數(shù)量分布和強度分布，微分與累計百分比以及其他綜合報告

形式任意組合，數(shù)據(jù)存儲兼容性強。

﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)指定認(rèn)證儀器。

Nanotrac Wave納米粒度儀主要技術(shù)特點：

采用最新的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法。

專利的異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性。

專利的可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。

超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。

專利的快速傅利葉變換算法（FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間。

消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。