推薦《Nano Letters》：量子點(diǎn)缺陷結(jié)構(gòu)可實(shí)現(xiàn)電子材料功能改進(jìn)

中國(guó)粉體網(wǎng)訊 近日，威斯康星大學(xué)（University of Wisconsin，UW）的研究人員發(fā)現(xiàn)了微小電子設(shè)備中未知的量子點(diǎn)缺陷，為改進(jìn)計(jì)算機(jī)、激光器或光學(xué)設(shè)備提供了新思路。該研究成果已發(fā)表在Nano Letters雜[更多]