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CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測設(shè)備品牌
中科慧遠產(chǎn)地
河南樣本
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CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測設(shè)備
CSU030D設(shè)備為中科慧遠針對以SiC為代表的化合物半導(dǎo)體晶片加工過程中外觀類缺陷進行宏觀檢測的缺陷檢測設(shè)備。
暫無數(shù)據(jù)!
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務(wù)
易用性
性價比