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光學元件激光損傷檢測及預處理設備品牌
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| 光學元件激光損傷檢測及預處理設備 | |
| 型號 | LDT-2000-C |
| 測量波長 | 193nm、355nm、532nm、1064nm或其他客戶定制波長 |
| 激光脈寬 | ~10ns |
| **測試激光通量 | ≥100J/cm2 |
| 損傷點識別率 | ≥95% |
| 樣品尺寸 | ≤150mm x 150mm(L x W)或客戶定制 |
光學元件激光損傷檢測及預處理設備(LDT-2000-C)，主要用于測試光學元件的激光損傷閾值以保證放置于光路中的各類光學元件的強激光負載性能，應用范圍包括光學元件激光損傷測試、體材料激光損傷測試鍍膜工藝優(yōu)化等。
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