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硅漂移探測(cè)器（SDD）設(shè)計(jì)能提高分析鎘和鉛等RoHS物質(zhì)的準(zhǔn)確度和速度。新優(yōu)化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規(guī)則表面的可重現(xiàn)性。此外，高性能探測(cè)器能提高計(jì)數(shù)率，增加探測(cè)痕量元素的精密度，并且實(shí)現(xiàn)測(cè)量較輕元素的**能力。為了確保高生產(chǎn)率，將黃銅中鎘的篩查（通常是XRF RoHS篩查中具挑戰(zhàn)性的一項(xiàng)）功能設(shè)計(jì)成比傳統(tǒng)型號(hào)速度更快，從而大幅提高通量。
該軟件的一項(xiàng)內(nèi)置功能可直觀標(biāo)記超出預(yù)設(shè)濃度限制的預(yù)定義元素。使用精密度控制軟件的EA1280一旦達(dá)到預(yù)定義參數(shù)將自動(dòng)停止分析?？稍陬A(yù)定義測(cè)量時(shí)間之前確定合格/失敗情況，由此可增加測(cè)量多件樣本的通量，從而節(jié)省時(shí)間且不會(huì)影響質(zhì)量計(jì)劃。
除了RoHS篩查，EA1280也能夠辨別礦渣（硅、鈣、鋁和鎂）、聚合物、礦物、化學(xué)品和其他材料中的主要成分。
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