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AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數(shù)設置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過SEM-AFM共享坐標樣品臺可輕松實現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
特點
1. 自動化功能
高度集成自動化功能追求高效率檢測
降低檢測中的人為操作誤差
4英寸自動馬達臺
自動更換懸臂功能
2. 可靠性
排除機械原因造成的誤差
大范圍水平掃描
采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對掃描器圓弧運動所產(chǎn)生的曲面，通常通過軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是，用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運動的影響，圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。
AFM5500M搭載了**研發(fā)的水平掃描器，可實現(xiàn)不受圓弧運動影響的準確測試。
樣品 ：硅片上的非晶硅薄膜
高精角度測量
普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時候，會發(fā)生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器，在豎直方向上不會發(fā)生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。
樣品 : 太陽能電池(由于其晶體取向具有對稱結構)
* 使用AFM5100N（開環(huán)控制）時
3. 融合性
親密融合其他檢測分析方式
通過SEM－AFM的共享坐標樣品臺，可實現(xiàn)在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌，結構，成分，物理特性等。
SEM-AFM在同一視野觀察實例（樣品：石墨烯/SiO2）
上圖是AFM5500M拍攝的形貌像（AFM像）和電位像（KFM像）分別和SEM圖像疊加的應用數(shù)據(jù)。
通過分析AFM圖像可以判斷，SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。
石墨烯層數(shù)不同導致表面電位（功函數(shù)）的反差。
SEM圖像對比度不同，可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。
與其他顯微鏡以及分析儀器聯(lián)用正在不斷開發(fā)中。
暫無數(shù)據(jù)！
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