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ATR衰減全反射探頭
Attenuated Total Reflectance Probe ATR探頭是測量吸光率在4000-5000 AU/cm 的樣品的理想產(chǎn)品。它能夠直接插入樣品中，不需要稀釋樣品就能獲得光譜。典型的應用包括純墨水樣品、染色樣品和原油樣品的測量。另外，如果探頭頂部的接觸樣品的折射率大于ATR探頭的藍寶石晶體的折射率，或大于1.7，ATR探頭可用作通用探頭。
ATR探頭被設計用于工業(yè)過程應用，曾經(jīng)在10，000psig的環(huán)境下接受測試。ATR探頭可以在315C的溫度下工作。ATR探頭是個經(jīng)過三次反射的探頭，并且可以穿透被測量波長的衰逝波/倏逝波。
應用場景
ATR(attenuated total reflection，衰減全反射)，
定義：入射面內偏振的單色平面光波在密－疏媒質的界上全反射時，光疏媒質中所形成的迅衰場（見衰減波）量可以被耦合到金屬或半導體的表面上而使表面等離元（SP）或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象。
利用光學中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。
應用：ATR在實際應用中，作為紅外光譜法的重要實驗方法之一，從一開始便顯示出其獨特的優(yōu)勢和廣闊的應用前景。由于其并不需要通過透過樣品的信號，而是通過樣品表面的反射信號獲得樣品表層有機成份的結構信息。不但簡化了樣品的制作過程，而且極大地擴大了紅外光譜法的應用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過法無法制樣，或者樣品制備過程十分復雜、難度大、而效果又不理想的實驗成為可能。因此，被廣泛應用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。
詳細參數(shù)
型號 | 規(guī)格 |
推薦使用的光纖直徑: | 600 μm |
外部直徑: | 19 mm (0.75") |
探頭長度: | ~305 mm |
身體材料: | 316 不銹鋼(標準); Hastelloy C， Titantium 和 Monel 也可用 |
晶體材料: | 藍寶石 |
密封: | 標準用Viton，也可選Chemraz， Kalrez |
壓強限制: | 10，000 psig |
光纖接頭: | SMA 905 |
溫度限制: | 300 oC |
波長范圍: | UV-NIR |
暫無數(shù)據(jù)！
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