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MultiMode平臺是世界上應用*廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經(jīng)在全球成功安裝使用了近萬套。它的成功基于其**的高分辨率和高性能，****的多功能性，以及已經(jīng)得到充分證實的效率和可靠性。現(xiàn)在，MultiMode掃描探針顯微鏡以其獨特的ScanAsyst模式，采用其先進的自動圖像優(yōu)化技術，使得用戶無論具備什么技能水平，也能在材料科學，生命科學，聚合物研究領域的研究中*迅速地獲得符合要求的研究成果。 SPM的控制電路也是影響性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先進的數(shù)字架構(gòu)：具有高數(shù)據(jù)帶寬，低噪聲數(shù)據(jù)采集和****的數(shù)據(jù)處理能力。布魯克的***的技術已經(jīng)開創(chuàng)工業(yè)上的新標準，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。 Multimode 的加熱和制冷裝置能對樣品進行加熱與制冷，適合于生物學，聚合物材料以及其他材料研究應用。采用加熱和制冷裝置后MULTIMODE 可在零下35oC到250 oC范圍內(nèi)對樣品進行溫度控制；并可以在水，溶液或緩沖劑的液體環(huán)境中進行掃描。當在氣體環(huán)境下對樣品進行掃描時，采用環(huán)境控制艙可以在大氣壓標準下控制環(huán)境氣體的成分。

技術參數(shù)：

1. 顯微鏡：多種可選Multimode SPM掃描頭AS-0.5系列：橫向(X-Y)范圍0.4μm×0.4μm，豎直(Z)范圍0.4μmAS-12系列：橫向(X-Y)范圍10μm×10μm，豎直(Z)范圍2.5μmAS-130系列：橫向(X-Y)范圍125μm×125μm，豎直(Z)范圍5.0μmPF50：橫向(X-Y)范圍40μm×40μm，豎直(Z)范圍20μm2. 噪聲：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （帶防震系統(tǒng)的測量值）3. 樣品大小：直徑≤15mm， 厚度≤5mm4. 針尖/懸臂支架：空氣中輕敲模式/接觸模式(標準)液體中輕敲模式/力調(diào)制(可選) 空氣中力調(diào)制(可選)；電場模式(可選)掃描熱(可選-需要大的光學頭或者外加的應用組件) STM轉(zhuǎn)換器(可選)低電流STM轉(zhuǎn)換器(可選)；接觸模式液體池(可選)電化學AFM或STM液體池(可選)扭轉(zhuǎn)共振模式(可選)5. 防震和隔音：硅膠共振模式(可選)防震三腳架(可選) ；防震臺(可選) 集成的防震臺和隔音罩(可選)

主要特點：

1. 世界上**的分辨率2. 出眾的掃描能力3. 優(yōu)異的可操作性4. 非凡的靈活性與功能性5. 無限的應用擴展性Multimode可以實現(xiàn)全面的SPM表面表征技術，包括：輕敲模式(Tapping Mode AFM)接觸模式(Contact Mode AFM)自動成像模式(ScanAsyst)相位成像模式(Phase Imaging)橫向力術模式(laterial Force Microscopy， LFM)磁場力顯微術(Magnetic Force Microscopy， MFM)掃描隧道顯微術(Scanning Tunneling Microscopy， STM)力調(diào)制(Force Modulation)電場力顯微術(Electric Force Microscopy， EFM)掃描電容掃描術(Scanning Capacitance Mcroscopy， SCM)表面電勢顯微術(Surface Potential Microscopy)力曲線和力陣列測量(Force-Distance and Force Volume Measurement)納米壓痕/劃痕(Nanoindenting/Scratching)電化學顯微術(Electrochemical Microscopy， ECSTM and ECAFM)皮牛力譜(PicoForce Force Spectroscopy)隧道原子力顯微術(Tunneling AFM， TUNA)導電原子力顯微術(Conductive AFM， CAFM)掃描擴散電阻顯微術(Scanning Spreading Resistance Microscopy， SSRM)扭轉(zhuǎn)共振模式(Torsional Resonance mode， TR mode)壓電響應模式(Piezo Respnance mode， PR mode)其他更多模式....