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SediGraph III Plus 5125全自動Ｘ光沉降粒度分析儀

• 獨特、可靠且成熟的粒度分析儀

• 在過去的 50 多年，是全球沉降粒度分析領域的標準

• 根據(jù)斯托克斯定律確定粒徑

• 粒徑分析時實時監(jiān)測顆粒沉降過程并查看報告的粒徑結果

• 全自動運行并通過先進的軟件界面實現(xiàn)控制

• 可選配 MasterTech 自動進樣器實現(xiàn)高通量測試

• 礦業(yè)、地質和陶瓷等眾多主流行業(yè)的行業(yè)標準

• 符合 ASTM B761-06 和先進陶瓷委員會 C28 的要求

SediGraph III Plus 基于直接檢測質量濃度確定粒度分布和統(tǒng)計數(shù)據(jù)，例如 D10、D50 和 D90。 只需一鍵即可獲得基本和高級報告。 SediGraph III Plus 可選配 MasterTech 自動進樣器，連續(xù)監(jiān)測生產過程，并將數(shù)據(jù)推送到網(wǎng)絡或云端以供遠程訪問。

性能與優(yōu)點：

智能設計特性

SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。 全新功能使得儀器的操作和維護更加輕松，并且能夠確保對同一樣品在任意一臺 SediGraphs 儀器上都能獲得可靠、重現(xiàn)的結果。

設計改進包括

• 完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒進行分析，包括粒徑小于 0.1 μm 的部分

• 能夠與其他粒徑測量方法獲得的數(shù)據(jù)合并，從而將數(shù)據(jù)報告范圍擴展到 125000 μm (125 mm)，在地質學方面有很好的應用

• 自下而上地掃描沉降池，能夠準確地獲取快速沉降顆粒的總數(shù)，同時盡可能縮短細顆粒分離所需的時間

• 全自動操作模式能夠提高樣品分析通量，并且減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差

• 溫控分析可確保在整個分析過程中液體的性質保持恒定，獲得精確的分析結果

• 多種分析速度，可根據(jù)實際需要選擇速度和分辨率

• 實時顯示，能夠監(jiān)控當前分析的累積質量圖，以便根據(jù)需求即時修正分析程序

• 統(tǒng)計過程控制（SPC）報告能夠跟蹤過程性能，便于立即對波動變化作出響應

• 多圖疊加功能，能夠對分析結果進行可視化比較，例如，與參考樣品或基線疊加，或將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結果圖疊加

• 數(shù)據(jù)比較圖，能夠以圖表形式顯示兩組數(shù)據(jù)集之間的數(shù)學差（與參考樣品圖的差異）或某個數(shù)據(jù)點值高于或低于容差范圍的程度（超標圖）

• 多分析儀控制，允許使用同一臺計算機控制兩臺 SediGraph ，節(jié)省寶貴的實驗室空間，方便數(shù)據(jù)存儲

更多信息，歡迎咨詢。

Micromeritics 是提供表征顆粒、粉體和多孔材料的物理性能、化學活性和流動性的全球高性能設備生產商。我們能夠提供一系列行業(yè)前沿的技術，包括比重密度法、吸附、動態(tài)化學吸附、壓汞技術、粉末流變技術、催化劑活性檢測和粒徑測定。

公司在美國、英國和西班牙均設立了研發(fā)和生產基地，并在美洲、歐洲和亞洲設有直銷和服務業(yè)務。Micromeritics 的產品是全球具有創(chuàng)新力的知名企業(yè)、政府和學術機構旗下 10,000 多個實驗室的優(yōu)選儀器。我們擁有專業(yè)的科學家隊伍和響應迅速的支持團隊，他們能夠將 Micromeritics 技術應用于各種要求嚴苛的應用中，助力客戶取得成功。

更多信息，歡迎咨詢。

Micromeritics 是提供表征顆粒、粉體和多孔材料的物理性能、化學活性和流動性的全球高性能設備生產商。我們能夠提供一系列行業(yè)前沿的技術，包括比重密度法、吸附、動態(tài)化學吸附、壓汞技術、粉末流變技術、催化劑活性檢測和粒徑測定。

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