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• CLEM (Correlative light and electron microscopy)：光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡的聯(lián)用觀察顯微鏡法

特色

MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并準(zhǔn)確支援CLEM解析的系統(tǒng)。

使用此系統(tǒng)，在光學(xué)顯微鏡下從低倍率到高倍率清晰觀察樹脂切片目標(biāo)結(jié)構(gòu)后，讓觀察位置與FE-SEM樣品臺坐標(biāo)信息同步，通過控制馬達(dá)臺在FE-SEM上可觀察同一位置。

此外，還可實(shí)時顯示光學(xué)顯微鏡和FE-SEM的疊加圖像。