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透射電子顯微鏡

透射電鏡

**個專門用于半導體行業(yè)的TEM

Thermo Scientific Metrios™系統(tǒng)是**臺透射電子顯微鏡（TEM），專用于提供半導體制造商開發(fā)和控制其晶圓制造工藝所需的快速，精確的測量?；綯EM操作和測量程序的廣泛自動化將對專業(yè)操作員培訓的要求降至*低。其先進的自動計量例程比手動方法具有更高的精度。與其他TEM相比，Metrios TEM旨在為客戶提供更高的通量和更低的每樣品成本。

半導體的Metrios SEM

大量TEM數(shù)據(jù)，準確且可重復-以*低的每次采樣成本

Thermo Scientific Metrios™透射電子顯微鏡（TEM）是**款專門提供半導體制造商開發(fā)和控制其晶圓制造工藝所需的快速，精確測量的TEM。

先進的邏輯和存儲器制造過程越來越依賴于精確結(jié)構(gòu)和分析數(shù)據(jù)的快速周轉(zhuǎn)，從而能夠快速校準工具集，診斷良率偏差并優(yōu)化過程良率。在低于28nm的技術(shù)節(jié)點上，尤其是在實施非平面器件設計的情況下，傳統(tǒng)的SEM或基于光學的分析和檢查工具無法提供有用的數(shù)據(jù)。我們的Metrios TEM自動執(zhí)行基本的TEM操作和測量程序，并**限度地減少了對專業(yè)操作員培訓的要求。其先進的自動計量例程比手動方法具有更高的精度。Metrios TEM旨在以*低的每次樣品成本提供大量TEM數(shù)據(jù)，準確且可重復的操作。

Thermo Scientific™Metrios™DX TEM結(jié)合了可靠的技術(shù)和創(chuàng)新的新功能，是半導體和存儲環(huán)境的**平臺，需要對越來越復雜的結(jié)構(gòu)和不斷縮小的幾何尺寸進行大量精確的測量。

主要好處

始終如一的，可重復的，精確的，從頭開始的設計，可提供可重復的TEM和基于S / TEM的成像，分析和可計量的計量，而無需操作員偏見

保證計量精度，TEM和S / TEM的畸變和放大率校準中的組合誤差小于1％

自動化的EDS和混合計量，通過自動化獲取和量化EDS數(shù)據(jù)。在關鍵的關鍵尺寸上使用元素對比來擴展STEM

通過樣品制備，拔除和成像跟蹤工作流程的連通性，關鍵過程數(shù)據(jù)?？梢噪x線應用計量，以**程度地獲取工具。所有成像和計量數(shù)據(jù)都整合在基于Web的圖像查看器中。