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ZLX-ES系列發(fā)射光譜/光源測量系統(tǒng)
發(fā)射光譜/光源測量系統(tǒng)介紹
發(fā)光體，如白熾燈、熒光燈、LED等輻射光譜及發(fā)光特性的測試，對研究其特性有很大幫助。系統(tǒng)不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布，而且可在此基礎(chǔ)上得到積分輻射通量、光通量、色坐標等。
針對不同輻射光源的特性，可靈活選擇測試系統(tǒng)，如：寬帶光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-λ150系列單色儀系統(tǒng)；激光器、放電燈、等離子體、原子發(fā)射光譜等要求分辨率高，可使用Omni-λ300、Omni-λ500、Omni-λ750系列單色儀系統(tǒng)；寬波長范圍（UV～IR），建議采用雙出口單色儀接兩個探測器；測試寬光譜范圍的發(fā)光體，建議采用SD濾光片輪消多級光譜。
系統(tǒng)組成：分光系統(tǒng)＋檢測系統(tǒng)＋數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)＋軟件系統(tǒng)＋計算機系統(tǒng)
暫無數(shù)據(jù)！
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