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SEM3100品牌
產(chǎn)地
合肥樣本
暫無(wú)探測(cè)器：
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.電子槍：
.電子光學(xué)放大：
.光學(xué)放大：
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分辨率可達(dá)3 nm看了掃描電子顯微鏡的用戶又看了
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SEM3100具有出色的成像質(zhì)量和豐富的擴(kuò)展性，將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性、易用性發(fā)揮到**。分辨率可達(dá)3 nm，超大樣品倉(cāng)，可容納**直徑為370 mm的樣品，以及諸多細(xì)節(jié)功能設(shè)計(jì)和特色功能，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡，擁有超高的分辨率和出色的成像質(zhì)量。放大倍率連續(xù)可調(diào)，在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深，成像富有立體感。配備的超大樣品倉(cāng)和低電壓模式，極大地?cái)U(kuò)展了SEM3100的應(yīng)用范圍。
豐富的擴(kuò)展性
掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察，還可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。SEM3100擁有超大的樣品倉(cāng)，接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器（ETD）、背散射電子探測(cè)器（BSED）、能譜儀（EDS）外，也預(yù)留了諸多接口，諸如電子背散射衍射（EBSD）、波譜儀（WDS）、陰極熒光（CL）等探測(cè)器都可以在SEM3100上進(jìn)行集成。
背散射探測(cè)器
二次電子成像和背散射成像對(duì)比。背散射像下，樣品的荷電效應(yīng)明顯減弱，并且具有很好的成分襯度，適合進(jìn)行成分觀察。
[金屬表面污染物] [金屬鍍層] [口腔種植材料]
能譜分析
水泥建筑材料SE和EDS分析結(jié)果，加速電壓15 kV
*微量Au元素為噴金后的鍍層
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大平臺(tái)中心并正式投入
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4月11日，中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)文房四寶工藝傳承基地（下稱“基地”）師生作品展在合肥市瑤海區(qū)文化館開幕。國(guó)儀量子作為本次活動(dòng)協(xié)辦單位與基地合作，將文房四寶經(jīng)典材料與掃描電子顯微鏡、偽彩處理技術(shù)結(jié)合，呈現(xiàn)了
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