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TESCAN GAIA3電鏡系統(tǒng)**的集成了超高分辨率的電子光學(xué)系統(tǒng)和高性能的離子束系統(tǒng)，二者配置于同一樣品室上。GAIA3電鏡以MAIA3場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡為平臺(tái)，在保留MAIA3優(yōu)越性能的基礎(chǔ)上，增加了使用聚焦離子束進(jìn)行樣品表面處理的功能。GAIA3具有創(chuàng)新性的場(chǎng)發(fā)射電鏡設(shè)計(jì)，低電壓下仍具有出色的分辨率，大大提高了其成像能力。與一般電鏡的電磁物鏡相比，GAIA3具有較窄小的電磁物鏡，同時(shí)InBeam-SE探頭和InBeam-BSE探頭的位置都位于透鏡內(nèi)，這些設(shè)計(jì)都為FIB及其他分析設(shè)備提供了充足空間，使之能夠在樣品表面完成多項(xiàng)工作。

GAIA3的突出特點(diǎn)

·單極60°電磁物鏡設(shè)計(jì)，**的SEM分辨率

·一流的多種成像模式—大視場(chǎng)模式，分辨率模式以及景深模式—這些功能都基于TESCAN獨(dú)有的大視場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)

·馬達(dá)控制的精準(zhǔn)樣品臺(tái)，可進(jìn)行精確的移動(dòng)或傾轉(zhuǎn)操作

·Field-free模式下可對(duì)磁性樣品進(jìn)行有效觀察

·高達(dá)200nA的束流強(qiáng)度

·停留時(shí)間低至20ns的快速電子束刻蝕速度

·FIB的Cobra光學(xué)系統(tǒng)，確保聚焦離子束極高的分辨率和優(yōu)異的性能，離子束流為1pA到50nA

·強(qiáng)大的DrawBeam軟件包，包含許多可編程設(shè)計(jì)模塊（基礎(chǔ)版和高級(jí)版）來(lái)實(shí)現(xiàn)掃描及制樣等過程中可調(diào)參數(shù)的多樣化

·不僅具有對(duì)樣品表面進(jìn)行修飾和觀察的多種功能，**的空間設(shè)計(jì)還能夠使電鏡通過接口兼容多種探測(cè)設(shè)備與技術(shù)手段，且還能保持一致的**分析工作距離

GAIA3的功能特點(diǎn)

對(duì)納米尺度物質(zhì)的成像分析及控制，是當(dāng)今順利開展研究工作的關(guān)鍵，這要求前沿的技術(shù)手段具有分辨率、準(zhǔn)確度、可重復(fù)性、穩(wěn)定性以及靈活性等多方面的優(yōu)異性能。

在前幾代電鏡系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)上，TESCAN推出了GAIA3新一代電鏡系統(tǒng)。它保持了SEM****的納米級(jí)分辨率特征，同時(shí)還集成了優(yōu)越的COBRA-FIB聚焦離子束功能，使新一代GAIA3電鏡擁有更加多元化的分析設(shè)備兼容性，提高了分析范圍和分析能力。

GAIA3的一個(gè)突出優(yōu)點(diǎn)在于它低電壓下的掃描電子成像功能，分辨率很高。這對(duì)于研究電子敏感材料或是導(dǎo)電性差的樣品極為重要，低電壓可以降低電子與材料相互作用，從而保證好的分辨率同時(shí)還能獲得好的低電壓襯度。

COBRA-FIB聚焦離子束系統(tǒng)是一項(xiàng)頂尖技術(shù)，不論成像拍照還是樣品微觀加工，都能保持很高的尺寸分辨率，是納米工程領(lǐng)域**的FIB設(shè)備。

系統(tǒng)靈活性與工具多樣性

TESCAN致力于為科研人員提供操作便捷、結(jié)果可靠、系統(tǒng)穩(wěn)定的解決方案與技術(shù)手段。TESCAN設(shè)備獨(dú)特的用戶分級(jí)設(shè)計(jì)能夠滿足所有操作者的需求，無(wú)論你是應(yīng)用專家，還是偶爾操作人員（只需要通過簡(jiǎn)單操作便可獲得出色的實(shí)驗(yàn)結(jié)果）。應(yīng)用專家模式是為長(zhǎng)期使用TESCAN電鏡系統(tǒng)，能夠充分了解和發(fā)揮電鏡靈活性和擴(kuò)展功能的熟練操作人員設(shè)計(jì)。TESCAN電鏡系統(tǒng)將眾多功能特點(diǎn)整合于全方位的交互界面，方便快速完成SEM和FIB各種工作模式與功能的觀察條件設(shè)置。

使用GAIA3電鏡可以輕松獲得**的圖像質(zhì)量與襯度，尤其是其獨(dú)特的低電壓拍照功能。當(dāng)然，二次電子（SE）與背散射電子（BSE）拍照模式在高電壓與低電壓條件下均可使用，獲得高質(zhì)量樣品照片。

GAIA3還配備了先進(jìn)的自由伸縮式STEM探頭，使用FIB制得TEM薄片樣品后可直接進(jìn)行電鏡觀察。另外，在FIB與SEM雙束電鏡上安裝飛行時(shí)間-二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS），一方面能夠提高質(zhì)譜敏感性，另一方面使用FIB對(duì)樣品表面連續(xù)進(jìn)行連續(xù)切割，可獲得樣品質(zhì)量分布的三維分布圖。

GAIA軟件與自動(dòng)化操作系統(tǒng)
       TESCAN的用戶友好型軟件、許多自動(dòng)化程序、遠(yuǎn)程控制系統(tǒng)及腳本庫(kù)都致力于幫助用戶獲得出色的結(jié)果，得到業(yè)界與用戶的一致認(rèn)可。GAIA3更是為經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶提供了專家級(jí)系統(tǒng)設(shè)置的訪問權(quán)，使用戶能夠根據(jù)自身需求進(jìn)行觀察條件的**化設(shè)置。GAIA3擁有多用戶使用環(huán)境、模塊化軟件設(shè)計(jì)、網(wǎng)絡(luò)操作控制以及眾多的擴(kuò)展功能，是一款靈活全面的電鏡設(shè)備。