參考價格
面議型號
nanoSAQLa品牌
大塚電子產(chǎn)地
江蘇樣本
暫無看了多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
特點
只需一臺，輕松實現(xiàn)5檢體連續(xù)測量
低濃度到高濃度都可對應(yīng)
高速測量，標(biāo)準(zhǔn)時間1分鐘
搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
內(nèi)置非浸泡型的cell block，無分注夾雜物
搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
粒徑 0.6nm～10μm
濃度范圍 0.00001～40％
溫度范圍 0～90℃*
仕樣
| 型號 | 多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng) |
|---|---|
| 測量原理 | 動態(tài)光散射法 |
| 光源 | 高出力半導(dǎo)體激光*1 |
| 檢出器 | 高感光度APD |
| 連續(xù)測量 | 5檢體 |
| 測量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
| 對應(yīng)濃度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 溫度 | 0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3 |
| 規(guī)格 | 遵照 ISO 22412：2017 |
| 遵照J(rèn)IS Z 8828：2013 | |
| 遵照J(rèn)IS Z 8826：2005 | |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 重量 | 約18 kg |
| 軟件 | 平均粒徑解析 （累積法解析） |
| 粒度分布解析 | |
| （Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） 粒度分布疊寫 逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot 粒徑monitor 粒徑顯示范圍 （0.1 ～ 106 nm） 分子量計算功能 |
*1 根據(jù)激光安全基準(zhǔn) （JIS C6802）級別區(qū)分，本儀器的安全級別為1級。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測量的情況。
一次性cell或連續(xù)測量時， 15 ～ 40℃ （不對應(yīng)溫度梯度）
測量范例
暫無數(shù)據(jù)！
顯微分光膜厚儀“OPTM”O(jiān)PTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試，并有獨家專利可針對透明
Zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（ZetaPotential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能
大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。以測量技術(shù)、應(yīng)用示例等重點介紹為主，定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會)。
多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa的工作原理介紹？多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa的使用方法？多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa多少錢一臺？多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa使用的注意事項多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa的說明書有嗎？多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa的操作規(guī)程有嗎？多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa的報價含票含運費嗎？多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa有現(xiàn)貨嗎？多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa包安裝嗎？
移動端
工商已核實
