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EM科特出席“2022第五屆新型陶瓷技術(shù)與產(chǎn)業(yè)高峰論壇”
鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司 2023-03-15 點(diǎn)擊1293次
鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司 2023-03-15 點(diǎn)擊1293次
2023年3月9日-10日，“第五屆新型陶瓷技術(shù)與產(chǎn)業(yè)高峰論壇”在江西萍鄉(xiāng)湘東區(qū)會(huì)議中心隆重舉行！
先進(jìn)陶瓷作為新材料領(lǐng)域的重要分支，已經(jīng)成為許多高技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的關(guān)鍵性材料，陶瓷材料的研究發(fā)展跟我國工業(yè)發(fā)展息息相關(guān)。EM科特掃描電鏡攜CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡出席本次會(huì)議，與陶瓷領(lǐng)域從業(yè)人員共同交流前沿的表征技術(shù)，助力科研單位成果轉(zhuǎn)化與研發(fā)企業(yè)陶瓷領(lǐng)域微表征分析，提供整體性專業(yè)解決方案，助力陶瓷行業(yè)的發(fā)展。
針對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)的觀察往往需要體現(xiàn)其最為真實(shí)的形態(tài)結(jié)構(gòu)，許多材料并不具有導(dǎo)電性，嚴(yán)重影響圖像質(zhì)量。EM科特臺(tái)式掃描電鏡具有優(yōu)異的低電壓成像能力，在樣品不能進(jìn)行噴金處理的前提下能有效解決導(dǎo)電性能很差或絕緣樣品的無法觀察到有效區(qū)域的成像問題，再結(jié)合點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的設(shè)計(jì)可輕松幫助用戶完成觀測。
陶瓷的晶粒尺寸和微觀結(jié)構(gòu)會(huì)影響材料的性能。使用EM科特臺(tái)式掃描電鏡所觀測到的圖像可以用于量化陶瓷晶粒尺寸和分布。
