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美國麥克儀器公司提供多種粒度分析解決方案

美國麥克儀器 2015-04-20 | 閱讀：1832

對(duì)粒度分析來說，沒有一種測(cè)試技術(shù)能夠滿足所有材料的應(yīng)用需求，選擇正確的測(cè)試方法是獲得可靠數(shù)據(jù)的關(guān)鍵，美國麥克儀器公司提供多種測(cè)定顆粒數(shù)量以及粒度分布的儀器，對(duì)應(yīng)不同的測(cè)試方法，滿足不同的應(yīng)用。

納米粒度與Zeta電位解決方案-Nanoplus納米粒度與Zeta電位儀

NanoPlus是獨(dú)特的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測(cè)量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個(gè)樣品池，滿足不同用戶的應(yīng)用。

· 三種型號(hào)可選：納米粒度儀、Zeta電位儀，納米粒度與Zeta電位儀

· 測(cè)量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm~12.3μm，濃度范圍0.00001%~40%

· 測(cè)量懸浮液樣品Zeta電位范圍：無范圍限制，濃度范圍：0.001%~40%

· 可配備自動(dòng)滴定儀以及多種樣品池

費(fèi)氏粒徑解決方案-SAS全自動(dòng)費(fèi)氏粒徑測(cè)試儀

麥克儀器SAS全自動(dòng)費(fèi)氏粒徑測(cè)試儀，是由費(fèi)氏95粒徑儀（FSSS）發(fā)展和升級(jí)而來，空氣滲透技術(shù)是公認(rèn)的粉體樣品比表面積（SSA）測(cè)試技術(shù)。使用該技術(shù)測(cè)定的SSA數(shù)據(jù)已經(jīng)在多個(gè)行業(yè)廣泛使用，例如：藥物、金屬涂料、顏料和地質(zhì)等行業(yè)

· 粒徑范圍：0.2-75μm

· 設(shè)計(jì)生產(chǎn)費(fèi)氏粒度數(shù)據(jù)，保證數(shù)據(jù)一致性

· 安裝方便，實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示

電阻法顆粒技術(shù)解決方案- ElzoneⅡ顆粒計(jì)數(shù)與粒度分析儀

ElzoneⅡ顆粒計(jì)數(shù)與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術(shù)，適用于同時(shí)分析具有不同光學(xué)性質(zhì)、密度、顏色和形狀的顆粒樣品可迅速、精確地檢測(cè)精細(xì)顆粒材料的尺寸、數(shù)目、濃度以及質(zhì)量。ElzoneⅡ被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、生物、地質(zhì)等粒度大于0.4μm的顆粒，具有極高的準(zhǔn)確度和分辨率，操作非常簡便。

· 測(cè)量范圍：0.4到266μm，有機(jī)或者無機(jī)材料

· 可使用不同的導(dǎo)電液，不需要輸入液體性質(zhì)參數(shù)

· 無需事先獲得材料性質(zhì)參數(shù)（密度、折射率等）

· 全自動(dòng)操作：啟動(dòng)、運(yùn)行、關(guān)閉、檢測(cè)并清除障礙物、沖洗和校準(zhǔn)

· CCD照相機(jī)可實(shí)時(shí)視頻顯示光圈

X光沉降粒度解決方案-SediGraph IIX光沉降粒度分析儀

結(jié)合成熟的SediGraph分析技術(shù)， SediGraph III通過對(duì)X-射線的吸收測(cè)量可以直接檢測(cè)分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度，無需模型，儀器有很好的重復(fù)性、精確性和重現(xiàn)性。