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粒度與穩(wěn)定性是決定膠體性質(zhì)的兩個參數(shù)，膠體的穩(wěn)定性又與Zeta電位密切相關，在研究和生產(chǎn)過程中，我們需要測定Zeta電位來確定膠體的分散情況從而確定產(chǎn)品的性能。納米粒度與Zeta電位儀是利用光子相關光譜法和電泳光散射技術測量粒度、Zeta電位和分子量的儀器，可廣泛應用于涂料、飲料乳劑、化妝品、紡織品、微電子工業(yè)、制藥行業(yè)等多個領域。

作為材料表征權(quán)威公司，我們一直致力于研發(fā)材料表征的最新方法與技術，為廣大用戶提供更精確、更廣泛應用的測試技術。為了和大家分享我們最新的研究成果，美國麥克儀器公司定于4月20日在國家納米科學中心舉辦題為“納米亞微米顆粒表征技術簡介：動態(tài)光散射（DLS）與電泳光散射（ELS）”的技術講座，我們誠邀您前來共同探討、交流本行業(yè)的國際最新發(fā)展趨勢。

研討會時間：4月20日13:30

地點： 國家納米科學中心科研樓三樓會議室

地址：北京市海淀區(qū)中關村北一條11號

主講人：麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總經(jīng)理許人良博士

會務聯(lián)系人：郭銳

聯(lián)系電話：021-51085884-807

技術講座基本內(nèi)容：

?    納米顆粒表征綜述

?    光子相關光譜PCS技術最新研究進展

?    全新的Zeta電位測樣技術

—如何測量濃溶液的Zeta電位？

—如何測量平整固體表面或薄膜的液固界面Zeta電位？

?    粒度與Zeta電位的應用領域

主講嘉賓簡介：

     許人良博士現(xiàn)任麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總經(jīng)理，從事顆粒特性研究和檢測技術30多年，是該領域國際資深著名專家。他于1980年代在美國獲得博士學位，并在2002年在美國獲得MBA學位。

他已發(fā)表了基礎理論研究和應用領域的科技文章100余篇；獲得3項美國專利；研究成果在科學檢索引用超過3000多次；在美國各大學和世界各地進行過學術講座100多次；并著有顆粒表征中的權(quán)威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》?，F(xiàn)在擔任眾多專業(yè)期刊的評委；ISO, ASTM, IAB of PERC的委員會成員；為多項國際標準的起草者；被列為美國和世界名人榜。許人良博士經(jīng)?；钴S在中國國內(nèi)學術領域，在多所大學進行科技講座?，F(xiàn)任上海華東理工大學兼職教授，上海師范大學兼職教授，沈陽科學技術學會特邀外國專家，與國際粉體監(jiān)測與控制聯(lián)合會理事。