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前文我們對(duì)馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的Zeta電位測(cè)試報(bào)告中的的參數(shù)逐一做了解釋，那么電位測(cè)試結(jié)果質(zhì)量要如何判別呢？

Zeta電位的數(shù)據(jù)質(zhì)量主要取決于相位圖的質(zhì)量，可以從相位圖，質(zhì)量因子以及衰減器來(lái)做出判斷。

01丨相位圖

如下圖，測(cè)量產(chǎn)生的相位差隨時(shí)間的交變斜率，FFR快速電場(chǎng)轉(zhuǎn)換，相位隨電場(chǎng)轉(zhuǎn)換快且清晰；SFR慢速電場(chǎng)轉(zhuǎn)換，斜率大，縱坐標(biāo)絕對(duì)值大，即表示相位圖質(zhì)量較好。

而當(dāng)測(cè)量產(chǎn)生的相位差隨時(shí)間的交變斜率不清晰，斜率低，縱坐標(biāo)絕對(duì)值小時(shí)，即代表相位圖質(zhì)量差。

造成相位圖質(zhì)量差的原因主要有：

• 樣品濃度太高

• 樣品濃度太低

• 高導(dǎo)電率

• 樣品在等電點(diǎn)IEP點(diǎn)或接近IEP點(diǎn)，顆粒不帶電

針對(duì)這些原因可以做出如下調(diào)整：

• 樣品濃度問(wèn)題

? 稀釋或提高樣品濃度重新測(cè)試

• 高電導(dǎo)率問(wèn)題

? 確保使用的分析模式是單一模式

? 限制子運(yùn)行次數(shù)＜15，關(guān)注過(guò)程中質(zhì)量因子變化趨勢(shì)

? 采用擴(kuò)散屏障法

• 顆粒不帶電問(wèn)題

?調(diào)整pH值并重新測(cè)量，并查看平均Zeta值是否變化

02丨質(zhì)量因子 Quality Factor

質(zhì)量因子是由相位圖數(shù)據(jù)導(dǎo)出的基于信噪比的參數(shù)。當(dāng)其值大于1時(shí)，表示結(jié)果可以被認(rèn)為是可靠的，小于1時(shí)，則結(jié)果不可靠。

Quality Factor ＜1的幾個(gè)原因：

• 樣本的Zeta電位值接近于零

• 樣品濃度不合適 (過(guò)低或過(guò)高)

• 高導(dǎo)電性導(dǎo)致樣品/電極氧化

• 手動(dòng)設(shè)置的測(cè)量子運(yùn)行次數(shù)不適合

03丨衰減器

如果自動(dòng)選擇的衰減器為11，請(qǐng)檢查樣品濃度是否過(guò)?。猓?，樣品池中是否存在氣泡，或樣品池是否插入至正確的位置。