Spos新型粉體測(cè)試和傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)原理不同，它不依賴于具體的數(shù)學(xué)運(yùn)算方程，如圖所示，它主要利用激光傳輸技術(shù)：將一束激光通過(guò)檢測(cè)帶的一個(gè)光學(xué)單元，其后的接受裝置則根據(jù)接受光的強(qiáng)度來(lái)分析顆粒的尺寸。
Spos新型粉體測(cè)試儀的測(cè)試范圍為0.5-2500微米，在這個(gè)范圍內(nèi)它有著極高的分辨能力，但它也不限于這個(gè)范圍內(nèi)粉體合成的產(chǎn)品，它可以提供產(chǎn)品的原始粉體尺寸分析以及材料的平均尺寸以及粉體的數(shù)量等。
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