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硅酸鹽孔隙率測(cè)定方法圖片
本圖片來(lái)自北京冠測(cè)精電儀器設(shè)備有限公司提供的硅酸鹽孔隙率測(cè)定方法，型號(hào)為BETA401Z的冠測(cè)儀器孔徑分析儀，產(chǎn)地為北京市昌平區(qū)，屬于品牌，參考價(jià)格為 20-30萬(wàn)元，公司還可為用戶(hù)供應(yīng)高品質(zhì)的硅酸鹽孔隙度測(cè)定儀、碳素粉孔隙度測(cè)定儀等產(chǎn)品。北京冠測(cè)精電儀器設(shè)備有限公司是中國(guó)粉體網(wǎng)的會(huì)員，合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)9年，工商信息已通過(guò)人工核驗(yàn)，獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證，請(qǐng)放心選擇！
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北京冠測(cè)精電儀器設(shè)備有限公司
會(huì)員9年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已認(rèn)證
品牌性質(zhì)：生產(chǎn)商
廠商榮譽(yù)：
留言咨詢(xún)
核心參數(shù)
重現(xiàn)性：
重復(fù)性誤差〈±1%分散方式：
4Pa測(cè)量時(shí)間：
半個(gè)小時(shí)測(cè)量范圍：
比表面積0.0005m2/g(氪氣吸附)至無(wú)上限
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