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多級(jí)顯微分析空氣顆粒物采樣器專為掃描電鏡SEM、能量色散X射線光譜分析EDXS和其他顯微分析技術(shù)采集樣品而設(shè)計(jì)的。采樣器擁有嵌入撞擊級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)電子顯微采樣托盤（**），采樣后可將采樣托盤直接插入顯微鏡進(jìn)行分析，無需樣品前處理，減少分析費(fèi)用。
此外，樣品收集在小的集中點(diǎn)，分析時(shí)很容易定位在高濃度地方。并且可選擇不同類型的基片材料用于各種顯微技術(shù)，如：X射線熒光分析XRF、投射電鏡TEM、傅里葉變換紅外光譜FTIR、氣相色譜/質(zhì)譜GC/MS。
應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體、制藥、航空航天等高精密制造工業(yè)污染控制
無塵室顆粒物污染分析
電腦硬盤顆粒物采樣
環(huán)境空氣、高層大氣顆粒物分析
MPS-4G1型 4級(jí)無塵室顯微顆粒物/氣溶膠采樣器
1.采集顆粒物粒徑切割點(diǎn)低至0.05um
2.流速：7lpm
3. 氣泵
4. 用于采集無塵室、顆粒物低濃度環(huán)境場(chǎng)合
MPS-3型 3級(jí)顯微顆粒物/氣溶膠采樣器
1.流速：2slpm
2. 采集顆粒物粒徑切割點(diǎn)低至0.05um
3. 氣泵
4. 用于電腦硬盤、環(huán)境空氣等顆粒物/氣溶膠采樣
5. 采樣器袖珍便攜
應(yīng)用案例
1．臺(tái)灣電力公司使用MPS-4G1型顯微分析顆粒物/氣溶膠采樣器采集核電站放射性氣溶膠，并將采集到的樣品用掃描電鏡進(jìn)行分析。
2． Chuan，Raymond L. and William Chiang，Cascade impactor Colects Airborne Samples for Particle Identification. Solid State Technology，July，1985
3． Chiang，William and Raymond L. Chuan， “The Cascade Impactor as a Particulate Chromatograph for Microanalysis of Aerosol Particles” Aerosols:Science，Technology，and Industruial Applications of Airborne Particles，Liu，Pui，and Fissan，eds.，Elaevier Science Publishing，New York，1984，99pp
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