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TFT液晶面板經(jīng)常會在出廠前用點(diǎn)燈檢查來判斷優(yōu)劣，但是當(dāng)將貨交給客戶后，隨著時間會出現(xiàn)殘影，亮度不均勻，Mura等不良現(xiàn)象，盡管一般認(rèn)為其中一些不良現(xiàn)象是由于TFT元件和驅(qū)動電路引起的，但是經(jīng)研究發(fā)現(xiàn)這些不良的發(fā)生也受到面板內(nèi)雜質(zhì)離子濃度的影響.雜質(zhì)離子不僅會在面板制造過程中混入，而且隨著時間的推移會從面板的外圍材料中混入液晶層內(nèi).尤其是在高溫，高濕度，紫外線等環(huán)境下使用會加速雜質(zhì)離子的產(chǎn)生.其次，作為顯示缺陷的另一個原因，也可能受到面板內(nèi)DC偏壓的影響，這是由面板驅(qū)動引起的.

LCM-3型測試儀是由我司和日本SHARP共同研發(fā)，可以在短時間內(nèi)測出TFT液晶面板內(nèi)的雜質(zhì)離子和內(nèi)部DC電壓.