測(cè)試對(duì)象 單晶硅、多晶硅太陽(yáng)電池;**尺寸 156mm x 156mm
測(cè)量項(xiàng)目
硅電池的**光譜響應(yīng),外量子效率,光譜透過(guò)率,短路電流密度
主要指標(biāo)
- 光譜范圍:360-1100nm
- 掃描間隔:≥1nm 整數(shù)(可調(diào))
- 掃描方式:全自動(dòng)
- 短路電流密度重復(fù)性:<1%
系統(tǒng)特點(diǎn) - 模塊化測(cè)試系統(tǒng)同樣可以實(shí)現(xiàn)一體機(jī)的測(cè)試功能,由多個(gè)模塊組成,可以靈活調(diào)整,滿(mǎn)足不同的應(yīng)用需求,方便升級(jí)。
- IQE和EQE同點(diǎn)同時(shí)測(cè)量
- 大功率連續(xù)光源,輸出光譜平緩無(wú)尖峰,保證測(cè)量重復(fù)性
- 獨(dú)特**的分光系統(tǒng),保證良好的波長(zhǎng)準(zhǔn)確度和重復(fù)性,消除多級(jí)譜的影響,雜散光小。
- 超強(qiáng)弱信號(hào)處理能力,有效提高信噪比,保證測(cè)量精度
- 獨(dú)特的樣品室及樣品架設(shè)計(jì),夾持方便,電極接觸好,對(duì)弱信號(hào)測(cè)試干擾小
- 完整的全自動(dòng)化專(zhuān)用系統(tǒng)軟件
- 集成了分光系統(tǒng)、多級(jí)譜濾除裝置、弱信號(hào)處理系統(tǒng)等的參數(shù)設(shè)置和選擇
- 自動(dòng)掃描、信號(hào)放大、A/D、數(shù)據(jù)采集和處理,圖表文件自動(dòng)生成、顯示
- 多種格式的數(shù)據(jù)和圖片備份和打印輸出功能
- 多組數(shù)據(jù)對(duì)比功能
- 粗大誤差的自動(dòng)去除,系統(tǒng)誤差、線性誤差、周期誤差、T誤差的自動(dòng)校驗(yàn)