ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為**一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)**的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)**技術(shù)：

1 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

2 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

6 DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路**化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至*低，徹底根除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

　　ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了**的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。

主要技術(shù)特性

Q 值測(cè)量范圍

2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

固有誤差

≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差

≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測(cè)量范圍

4.5nH ～ 140mH

電容直接測(cè)量范圍

1 ～ 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍

18 ～ 220pF

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度

120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％

信號(hào)源頻率覆蓋范圍

100kHz ～ 160MHz

頻率分段 （ 虛擬 ）

100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz，10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz

頻率指示誤差

3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字