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塞貝克系數(shù)/電阻分析系統(tǒng) CTA-4 （超低溫版）

測試參數(shù)：電導(dǎo)率/電阻率、熱電勢率/塞貝克系數(shù)

溫度范圍：4K-300K（-269℃—室溫）

低溫技術(shù)：低溫制冷機(jī)作冷源，無需消耗液氮/液氦

概 述:

本系統(tǒng)采用低溫制冷機(jī)作冷源，無需使用液氮/液氦，實(shí)現(xiàn)固體材料低溫區(qū)（4K-300K; -269℃—室溫）的電學(xué)性能（電導(dǎo)率/電阻率，熱電勢率/塞貝克Seebeck系數(shù)）和可選熱學(xué)性能(熱導(dǎo)率、熱膨脹系數(shù)、比熱等)測量單元。

系統(tǒng)設(shè)計(jì)思想

在一個(gè)以單臺(tái)或多臺(tái)制冷機(jī)為冷源的低溫平臺(tái)上，集成全自動(dòng)的電學(xué)和熱學(xué)物性測量手段。使得整個(gè)系統(tǒng)的低溫環(huán)境得到充分利用、極大減少了客戶購買儀器的成本、避免實(shí)驗(yàn)的繁瑣和誤差。低溫平臺(tái)與測量平臺(tái)分離設(shè)計(jì)，測試樣品更換過程變得快捷、方便。

基本系統(tǒng)

硬件結(jié)構(gòu)包括：樣品架組件、插入管組件、真空絕熱系統(tǒng)、制冷機(jī)、減震傳熱部件、控溫部件、干式泵、氦氣罐、測控儀表和數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)等?；鞠到y(tǒng)平臺(tái)提供低溫環(huán)境，以及測量相關(guān)的軟硬件控制中心。

樣品室

樣品室連接在樣品架組件上，通過可拆卸方式安裝不同物性測量樣品臺(tái)。測量時(shí)樣品室處于密封的真空狀態(tài)，樣品冷卻過程是通過減震傳熱部件把制冷機(jī)冷量傳遞給樣品架組件，再通過測試平臺(tái)把冷量傳遞給樣品，使樣品降溫。樣品測量采用樣品托的方式。

溫度控制

采 用制冷機(jī)直接冷卻樣品的方式，通過減震傳熱部件既減少制冷機(jī)的輕微震動(dòng)可能帶來的影響，又保證了樣品能夠快速冷卻。通過獨(dú)特的設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)連續(xù)快速精準(zhǔn)溫 度控制。溫控范圍：4.0K-300K連續(xù)控溫；溫度穩(wěn)定性：±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。

全球甄選一流供貨商，保證系統(tǒng)品質(zhì)達(dá)到**！

CTA系統(tǒng)硬件組成：

美國吉時(shí)利 Keithley（數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)）

德國 W.HALDENWANGER （高溫陶瓷系統(tǒng)）

英國摩根Morgan（高溫特種材料）

美國通用電氣GE（光波加熱元件）

瑞典康泰爾 Kanthal （加熱元件）

美國精量電子 MEAS（傳感器）

日本IKO （精密軸承）

日本住友Sumitomo （低溫制冷機(jī)系統(tǒng)）

塞貝克系數(shù)測量單元

電阻率測量單元

技術(shù)參數(shù)

電阻率測量單元

塞貝克系數(shù)測量單元