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1. 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
XV400是一款光譜范圍為180nm-430nm的光纖光譜儀。檢測(cè)器采用濱松面陣背照式CCD， 16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動(dòng)態(tài)范圍?？梢詮V泛應(yīng)用在理化分析、生物樣品、半導(dǎo)體材料檢測(cè)，光學(xué)檢測(cè)和材料檢測(cè)等領(lǐng)域。 XV400在0-40度，光譜波長(zhǎng)偏移< 0.1nm，具備良好熱穩(wěn)定性，能夠應(yīng)用于定性、定量檢測(cè)場(chǎng)景。
2. 產(chǎn)品外觀及結(jié)構(gòu)圖
圖1 XV400正面圖 | 圖2 XV400側(cè)面圖 |
圖3 XV400尺寸圖
3. 產(chǎn)品特點(diǎn)
? 響應(yīng)強(qiáng)度大：在檢測(cè)物質(zhì)時(shí)光譜響應(yīng)強(qiáng)度大；
? 分辨率高：分辨率<1.0nm@25μmslit；
? 良好的熱穩(wěn)定性：光譜波長(zhǎng)偏移< 0.1nm@ 0-40℃， 靈敏度偏差<2%。
4. 產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品參數(shù) | |
尺寸： | 95×71×41mm |
重量： | ~350g |
探測(cè)器： | 濱松面陣背照式CCD |
波動(dòng)范圍： | 180-430nm |
像素： | 2048 ×64 有效像素 |
光譜分辨率: | <1 nm@25μm狹縫 |
信噪比: | 450:1 |
A/D 采樣: | 16bit |
暗噪聲: | 55 RMS |
動(dòng)態(tài)范圍: | 1200：1 |
積分時(shí)間: | 4ms-40 second |
連接器： | MiniUSB |
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
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