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該掠角鏡面反射附件專注于快速有效地獲得高質(zhì)量光譜。它非常適合檢查金屬或其他反射基材上的各種薄膜和涂層。Focus™具有75o入射角和內(nèi)置Si偏振器，可用于高光譜對比度的掠角測量。其方便的水平樣品臺和凝聚光束使其非常適合檢測各種樣品尺寸和形狀。Focus™具有PermaPurge™，可快速進行樣品和晶體交換，而不會中斷光譜儀的吹掃。對于應用的多功能性，F(xiàn)ocus™可以很容易地適用于多次反射ATR實驗。

應用

1、適用于檢查鏡子和其他反射基材上的涂層。

2、適用于小型和大型樣品。

3、對QC應用程序非常寶貴。

特點

1、75o掠入射角。

2、內(nèi)置硅偏光板，實現(xiàn)**光譜對比度。

3、方便的水平階段。

4、高樣品通量。

5、小采樣區(qū)域。

6、多次反射ATR的可選升級。

7、Harrick獨有的PermaPurge™可在不中斷系統(tǒng)吹掃的情況下快速取樣。

包括

1、內(nèi)置偏振器。

2、指定光譜儀的配合硬件。