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日本JEOL X射線熒光光譜儀JSX-1000S

JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。　 利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。

• 產(chǎn)品規(guī)格

• FIB

• Windows ® 為美國微軟公司在美國或其它國家的注冊商標(biāo)或商標(biāo)。

• 主要附件

• 樣品室真空排氣單元

• 多樣品自動交換單元

• 濾波器組

• 濾膜FP 法分析軟件

• 薄膜FP 法分析軟件

• 和峰消除軟件

• 鎳鍍層篩選解決方案

• 錫鍍層篩選解決方案

• 氯元素篩選解決方案

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· JIB-4000聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為TEM成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與SEM像比較，SIM像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。

· 高性能FIB鏡筒

· JIB-4000采用高性能的FIB鏡筒，**離子束流高達(dá) 60 nA，能進(jìn)行快速研磨。大電流下的快速加工尤其適合于大面積的研磨，制備100 μｍ以上用來觀察的截面非常輕松。

· 用戶友好的FIB裝置

· JIB-4000高性能的 FIB鏡筒具有出色的可操作性。用戶友好的外觀和GUI設(shè)計(jì)，建立了使用方便的FIB系統(tǒng)。即使不是FIB專家也能夠輕松操作，此外，該裝置小巧緊湊為業(yè)界*小體積，安裝地點(diǎn)的選擇范圍很大。

· 雙樣品臺

· JIB-4000標(biāo)配的塊狀樣品馬達(dá)驅(qū)動樣品臺可供塊狀樣品使用，此外還可以增配側(cè)插式測角臺（TEM用Tip-on 樣品架可以直接插入）。塊狀樣品馬達(dá)驅(qū)動樣品臺能觀察整個表面為20 mm x 20 mm的塊狀樣品，樣品交換可以通過氣鎖式系統(tǒng)快速進(jìn)行。側(cè)插式測角臺與JEOL的TEM系統(tǒng)使用的相同，因此Tip-on （尖端上可以安裝附件的）樣品架與JEOL的TEM系統(tǒng)可以通用，這樣，F(xiàn)IB加工和TEM觀察的反復(fù)交替就能很容易地進(jìn)行。

· 豐富的附件

· 有各種附件可用來支持JIB-4000的操作。包括對電路修改應(yīng)用特別有效的CAD導(dǎo)航系統(tǒng)，對特殊形狀加工有效的矢量掃描系統(tǒng)等。通過給JIB-4000安裝適當(dāng)?shù)母郊撓到y(tǒng)可以支持樣品制備以外的應(yīng)用。