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薄膜相變分析儀是一款對相變材料相變特性進(jìn)行測量與分析的精密光電儀器，可通過自動(dòng)測量分析薄膜或者粉體等相變材料的熱滯回線、相變溫度、熱滯寬度、相變幅度等特性參數(shù)。
先進(jìn)的模塊化設(shè)計(jì)理念、精密的光探針技術(shù)、高端的進(jìn)口芯片、便捷的自動(dòng)測試分析軟件、以及時(shí)尚的外觀，使該儀器成為二氧化釩等相變材料研究的不二選擇。中國科學(xué)院廣州能源研究所，深圳大學(xué)等單位為典型用戶。
薄膜相變分析儀
技術(shù)特點(diǎn)：
1、精密光學(xué)測量技術(shù)，可進(jìn)行單層、多層和超小樣品的測量，且靈敏度更高
2、非接觸式信號采集，避免了接觸式探針測量對樣品的損傷和不穩(wěn)定性缺點(diǎn)
3、先進(jìn)的光探針技術(shù)，使得采樣范圍*小直徑可達(dá)300微米
4、全自動(dòng)一-鍵測量，操作簡單，省時(shí)、省事
5、超高采樣速率1測量快速、準(zhǔn)確，工作效率高
6、觸摸屏操作與電腦操作兩種模式，測量隨心所欲
7、升溫速率無級可調(diào)，根據(jù)實(shí)際需求任意選擇
8、與DSC測量相比，具有超高性價(jià)比
9、科研型與基礎(chǔ)型，滿足不同需求
技術(shù)規(guī)格
1、儀器型號PTM1700
2、工作波長1550nm (特殊需要波長可定制)
3、樣品臺(tái)溫度范圍:室溫~120°C，溫度精度+0.1°C
4、采樣頻率1Hz
5、*小采樣范圍直徑300um
6、紅外非接觸測溫模式
7、自然冷卻與風(fēng)冷兩種降溫模式
8、加熱速率無級可調(diào)
9、設(shè)定參數(shù)后自動(dòng)測量出薄膜相變的熱滯回線
10、USB2.0高速數(shù)據(jù)接口
11、測試分析軟件可得到相變溫度、熱滯寬度等特性參數(shù)
12.可以Exce形式導(dǎo)出各原始測試數(shù)據(jù)和分析數(shù)據(jù)，以word形式導(dǎo)出測試分析報(bào)告
暫無數(shù)據(jù)！
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