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UV2400系列為小屏幕掃描型比例監(jiān)測(cè)雙光束紫外-可見分光光度計(jì)。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)確保儀器具有：高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比?？蓾M足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外-可見分光光度計(jì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實(shí)現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。
技術(shù)參數(shù)：
| 型 號(hào) | UV2400/PC |
| 光學(xué)系統(tǒng) | 比例監(jiān)測(cè)雙光束 |
| 光譜帶寬 | 1.8nm |
| 波長范圍 | 190~1100nm |
| 波長準(zhǔn)確度 | ±0.3nm |
| 波長重現(xiàn)性 | 0.2nm |
| 光度范圍 | T:0~200.00%T A:-0.301~4.0000Abs C:0~9999 |
| 光度準(zhǔn)確度 | ±0.3%T |
| 光度重復(fù)性 | 0.1%T |
| 雜散光 | ≤0.05%T(220nm和340nm處) |
| 基線直線性 | ±0.002A |
| 基線漂移 | 0.001A/h(500nm處) |
| 噪聲 | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) |
主要特點(diǎn)：
功能
光度測(cè)量：定波長測(cè)試吸光度、透過率和濃度測(cè)量
光譜掃描：掃描速度可選，間隔可選(0.1、0.5、1、2、5nm)，峰/谷自動(dòng)檢測(cè)，圖譜縮放等功能
定量測(cè)定：單波長法、一階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合，*多可建立9個(gè)標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線
動(dòng)力學(xué)測(cè)量(時(shí)間掃描)：對(duì)樣品進(jìn)行動(dòng)力學(xué)測(cè)試，測(cè)試間隔時(shí)間可選，可保存1800個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)點(diǎn)。
特點(diǎn)
持久的穩(wěn)定性：比例監(jiān)測(cè)雙光束光學(xué)系統(tǒng)，確保儀器長時(shí)間的穩(wěn)定
超低的雜散光：先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元器件保證儀器具有超低的雜散光，使高濃度樣品測(cè)試更準(zhǔn)確。
顯示操作人性化設(shè)計(jì)：大屏幕顯示器顯示數(shù)據(jù)、圖形、曲線，更直觀，用戶操作簡單方便。
自動(dòng)比色架：自動(dòng)八聯(lián)池可做更多樣品測(cè)定，大大提高了儀器測(cè)試速度
燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu)，更換氘燈無需專用工具，免去換燈時(shí)光路調(diào)試步驟，使儀器調(diào)試、維護(hù)更加簡單。
豐富的可選附件：多種附件可供選擇，儀器測(cè)量范圍更加廣泛。
UV-Solution 3.0工作站軟件，具有各種測(cè)試、掃描功能
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手機(jī)版：
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