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面議型號(hào)
JEM-ARM200F品牌
產(chǎn)地
日本樣本
暫無(wú)分散方式：
0.5測(cè)量時(shí)間：
0.5測(cè)量范圍：
0.5誤差率：
0.5分辨率：
0.1nm重現(xiàn)性：
0.5儀器原理：
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JEM-ARM200F球差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,標(biāo)配了掃描透射環(huán)形明場(chǎng)(STEM-ABF)成像模式。對(duì)樣品在納米尺度的精細(xì)結(jié)構(gòu)和化學(xué)成份進(jìn)行高水平表征檢測(cè)。用于納米科學(xué)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的科研項(xiàng)目。JEM-ARM200F差校正透射電鏡可用于成分，形貌，結(jié)構(gòu)分析測(cè)試。獲得樣品表面形貌，粒徑等相關(guān)信息。用于獲得明、暗場(chǎng)像的襯度像進(jìn)行分析。直接觀察晶體樣品中輕元素的原子陣列，還可以同時(shí)獲取STEM-HAADF像，極大增強(qiáng)觀察、分析能力。原子像，選區(qū)電子衍射，會(huì)聚束電子衍射；對(duì)樣品在納米尺度的精細(xì)結(jié)構(gòu)和化學(xué)成份進(jìn)行高水平表征檢測(cè)。
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