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概述
比表面積是表征微納米粉體材料表面物性重要指標(biāo)之一，*常用的測(cè)定方法是氮吸附法。動(dòng)態(tài)氮吸附法測(cè)定比表面積廣泛應(yīng)用于工業(yè)中生產(chǎn)線(xiàn)上產(chǎn)品的快速檢測(cè)。精微高博公司***儀器JW-DX型動(dòng)態(tài)吸附比表面測(cè)定儀，測(cè)試準(zhǔn)確、高效，非常適合三元材料、石墨等電池正負(fù)極材料、醫(yī)藥輔料等小比表面樣品的測(cè)試。
測(cè)試原理：
在-196度低溫液氮環(huán)境下，通入一定流量比例的氮氦混合氣體，采用高精度熱導(dǎo)池根據(jù)樣品吸附氮分子前后的氣體濃度變化，得到吸附峰或脫附峰，峰面積正比于氮?dú)馕搅浚瑧?yīng)用直接對(duì)比法或BET理論計(jì)算出樣品的比表面積大小。
JW-D系列特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)
技術(shù)優(yōu)越
◎***——DX型儀器，不采用常規(guī)的脫附過(guò)程而采用吸附過(guò)程進(jìn)行峰面積計(jì)算，完全避免了常溫下樣品可能脫附不完全帶來(lái)的測(cè)試誤差，非常適合三元材料、石墨等電池正負(fù)極材料小比表面的測(cè)定；（**號(hào)20140320453.2）
◎吸附峰——峰形尖銳，每個(gè)樣品吸附引起的氮濃度改變完全不被沖淡，樣品測(cè)試靈敏度大幅提高，在保證吸附充分的條件下，大大提高了測(cè)試效率，一次完成4個(gè)樣品的對(duì)比法測(cè)試只需約15min；
◎分析站——4個(gè)，每個(gè)樣品獨(dú)立進(jìn)行吸附過(guò)程，實(shí)現(xiàn)了多樣品的無(wú)干擾、無(wú)差異測(cè)試，完全保證每個(gè)分析站測(cè)試結(jié)果的平行性，重復(fù)性誤差≤± 1.0%；
◎真空加熱脫氣——選配。外置式4站真空脫氣機(jī)，可同時(shí)進(jìn)行4個(gè)樣品的脫氣預(yù)處理，配合比表面儀主機(jī)同時(shí)使用，可大大提高測(cè)試效率。**脫氣溫度400℃；（**號(hào)第2516757號(hào)）
◎氮分壓自動(dòng)調(diào)節(jié)——BET測(cè)試采用70ml/min及30ml/min高精度質(zhì)量流量控制器全自動(dòng)進(jìn)行氮?dú)夥謮赫{(diào)節(jié)，控制精度高、誤差小，確保經(jīng)過(guò)樣品表面氣體流量的穩(wěn)定性與精確性；（**號(hào)第2517307號(hào)）
◎標(biāo)定氣體——BET測(cè)試標(biāo)定氣體采用氮?dú)?，?biāo)定系統(tǒng)全電磁閥自動(dòng)控制，打破傳統(tǒng)六通閥控制的局限，具有先進(jìn)性；（**號(hào)第2508179號(hào)）
◎杜瓦瓶——1L容量真空玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶，保溫效果遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)越于金屬內(nèi)膽液氮杯；（**號(hào)第2509179號(hào)）
◎防樣品飛濺技術(shù)——自主研發(fā)，設(shè)計(jì)內(nèi)置式防飛濺單元，可有效防止粉體樣品隨流動(dòng)氣體流入儀器內(nèi)部管路，可有效避免儀器受到污染；
操作便利，人性化設(shè)計(jì)
◎比表面儀器全自動(dòng)控制及操作；
◎測(cè)試界面上動(dòng)態(tài)顯示每個(gè)樣品的吸附或脫附過(guò)程，吸附峰或脫附峰實(shí)時(shí)顯示，每個(gè)樣品的峰面積及吸附量實(shí)時(shí)計(jì)算；對(duì)比法測(cè)試時(shí)，每個(gè)樣品的比表面結(jié)果實(shí)時(shí)顯示；
◎測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)保存為源文件，支持不聯(lián)機(jī)離線(xiàn)分析，可拷貝；
◎動(dòng)態(tài)真空加熱脫氣機(jī)配置微型真空泵及加熱爐，爐體溫度≦400°C±1°C，樣品加熱脫氣后轉(zhuǎn)移到比表面儀主機(jī)上即可進(jìn)行測(cè)試。
可升級(jí)性強(qiáng)
◎DX型儀器標(biāo)準(zhǔn)配置對(duì)比法比表面測(cè)試功能，可升級(jí)為多點(diǎn)BET比表面測(cè)試型儀器；
◎動(dòng)態(tài)外置式4站真空加熱脫氣機(jī)，屬選配設(shè)備，建議用戶(hù)選配，亦可在今后隨時(shí)添加；
JW-D系列性能參數(shù)
型號(hào) | JW-DX | JW-DA |
測(cè)試原理 | 低溫氮吸附，流動(dòng)色譜法 | |
方法特色 | ***技術(shù)。 采用吸附峰，與靜態(tài)容量法相同，四個(gè)樣品獨(dú)立測(cè)試，無(wú)干擾，信號(hào)峰尖銳，＜10m2/g小比表面樣品測(cè)試精度明顯提高 | 傳統(tǒng)脫附技術(shù)。 采用脫附峰，四個(gè)樣品并聯(lián)不獨(dú)立，信號(hào)峰被沖淡，不適合＜10m2/g小比表面樣品的精確測(cè)試 |
測(cè)試功能 | 對(duì)比法比表面積測(cè)試； 單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積測(cè)試 | 對(duì)比法比表面積測(cè)試； 單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積測(cè)試 |
測(cè)試氣體 | 高純氮?dú)猓?9.999%）+ 高純氦氣（99.999%） | |
氮分壓P/P0范圍 | 0.05-0.35 （多點(diǎn)BET） | |
測(cè)試范圍 | 比表面積0.01m2/g至無(wú)已知上限，不適用于微孔材料檢測(cè) | 比表面積0.01m2/g至無(wú)已知上限，不適用于微孔材料檢測(cè) |
重復(fù)精度 | 炭黑標(biāo)準(zhǔn)樣品≤± 1.0%； 與靜態(tài)容量法測(cè)試精度高度一致 | 炭黑標(biāo)準(zhǔn)樣品≤± 1.5%； |
分析站 | 4個(gè) | 4個(gè) |
測(cè)試效率 | 對(duì)比法測(cè)試每個(gè)樣品約需5min； 多點(diǎn)BET測(cè)試每個(gè)樣品約需25min； | 對(duì)比法測(cè)試每個(gè)樣品約需9min； 多點(diǎn)BET測(cè)試每個(gè)樣品約需30min； |
主機(jī)規(guī)格 | 長(zhǎng)610mm×寬460mm×高680mm，重量約48Kg； | |
環(huán)境溫度要求 | 室溫，建議配備空調(diào) | |
環(huán)境濕度要求 | 10%-90% | |
電源要求 | 交流220V±20V，50/60HZ，**功率300W，電流5A ； | |
推薦應(yīng)用領(lǐng)域 | 石墨、三元材料、磷酸鐵鋰、錳酸鋰、鈷酸鋰等等電池正負(fù)極材料；醫(yī)藥輔料；金屬粉末；金屬氧化物粉末；稀土發(fā)光材料；納米碳酸鈣；等等 | |
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比表面積測(cè)試目前國(guó)內(nèi)各行業(yè)采用的標(biāo)準(zhǔn)比較多，一些行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)頒布的時(shí)間較早，其中提及的測(cè)試原理依然采用，而測(cè)試的設(shè)備早已被更精確的自動(dòng)化儀器所取代。目前與國(guó)際接軌的主要是氣體吸附BET法比表面積測(cè)試，也
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